La technologie
au coeur de
notre solution

Un appareil de mesure DEEPTECH unique, fusionnant deux piliers technologiques pour un contrôle de surface précis, rapide et complet.

Réflectométrie Non Linéaire

L’optique non linéaire et spécifiquement la génération de second harmonique (SHG) vous permet d’analyser la matière autrement, détectant les contaminants et charges résiduelles.
En appliquant cet effet de la lumière en réflexion, vous obtenez une technique ultra-sensible et non destructive qui apporte des informations clés plus facilement et plus rapidement que d’autres méthodes.

Ellipsométrie Non Linéaire

La polarisation de la lumière, concept clé en ellipsométrie, permet de caractériser des interfaces sensibles ou de détecter des changements très fins dans la matière. En ellipsométrie non linéaire, cette sensibilité est amplifiée, permettant une détection encore plus fine.
Grâce à l’intégration de cette technique dans notre outil d’analyse, nous sommes en mesure de révéler le degré d’isotropie des surfaces jusqu’à l’identification des monocouches moléculaires.

Réflectométrie Non Linéaire

L’optique non linéaire et spécifiquement la génération de second harmonique (SHG) vous permet d’analyser la matière autrement, détectant les contaminants et charges résiduelles. En appliquant cet effet de la lumière en réflexion, vous obtenez une technique ultra-sensible et non destructive qui apporte des informations clés plus facilement et plus rapidement que d’autres méthodes.

Elipsométrie non linéaire

La polarisation de la lumière, concept clé en ellipsométrie, permet de caractériser des interfaces sensibles ou de détecter des changements très fins dans la matière. En ellipsométrie non linéaire, cette sensibilité est amplifiée, permettant une détection encore plus fine. Grâce à l’intégration de cette technique dans notre outil d’analyse, nous sommes en mesure de révéler le degré d’isotropie des surfaces jusqu’à l’identification des monocouches moléculaires.