La technologie
au coeur de
notre solution

Un appareil de mesure DEEPTECH unique, fusionnant deux piliers technologiques pour un contrôle de surface précis, rapide et complet.

Réflectométrie Non Linéaire

L’optique non linéaire et spécifiquement la génération de second harmonique (SHG) vous permet d’analyser la matière autrement, détectant notamment les contaminants et charges résiduelles.
Exploitée en mode réflexion, cette technique non destructive et extrêmement sensible permet d’accéder rapidement à des informations essentielles, le plus souvent inaccessibles avec les méthodes d’analyse traditionnelles.

Ellipsométrie Non Linéaire

La polarisation de la lumière, concept clé en ellipsométrie, permet de caractériser des interfaces sensibles ou de détecter des changements très fins dans la matière. En ellipsométrie non linéaire, cette sensibilité est amplifiée, permettant une détection encore plus subtile.
Intégrée à notre solution de métrologie R-SHG, cette approche révèle notamment de l’anisotropie des surfaces jusqu’à la détection de monocouches moléculaires.

Réflectométrie Non Linéaire

L’optique non linéaire et spécifiquement la génération de second harmonique (SHG) vous permet d’analyser la matière autrement, détectant notamment les contaminants et charges résiduelles.
Exploitée en mode réflexion, cette technique non destructive et extrêmement sensible permet d’accéder rapidement à des informations essentielles, le plus souvent inaccessibles avec les méthodes d’analyse traditionnelles.

Ellipsométrie Non Linéaire

La polarisation de la lumière, concept clé en ellipsométrie, permet de caractériser des interfaces sensibles ou de détecter des changements très fins dans la matière. En ellipsométrie non linéaire, cette sensibilité est amplifiée, permettant une détection encore plus subtile.
Intégrée à notre solution de métrologie R-SHG, cette approche révèle notamment de l’anisotropie des surfaces jusqu’à la détection de monocouches moléculaires.